Schwingungsüberwachung an sehr empfindlichen Geräten, z.B. Elektronenmikroskopen und Fotolithografieanlagen, in Mikroelektronik und Nanotechnologie
Bewertung von Schwingungen nach VC- und Nano-Kriterien
Schalldruckpegelanalyse mit akustischen Bewertungen
Langzeitüberwachung mit Alarmfunktion
Zwei Cursoren zur Anzeige der Frequenz und Amplitude mit Einrastfunktion
Bis zu vier Signale in einem Fenster
Mittels Klonfunktion können bis zu vier VM-OCT+ mit unterschiedlichen Einstellungen gleichzeitig messen
Externe Meldegeräte ansteuerbar
Offline-Messung möglich
