VM-OCT+

Schwingungsüberwachung an sehr empfindlichen Geräten, z.B. Elektronenmikroskopen und Fotolithografieanlagen, in Mikroelektronik und Nanotechnologie

Bewertung von Schwingungen nach VC- und Nano-Kriterien

Schalldruckpegelanalyse mit akustischen Bewertungen

Langzeitüberwachung mit Alarmfunktion

Zwei Cursoren zur Anzeige der Frequenz und Amplitude mit Einrastfunktion

Bis zu vier Signale in einem Fenster

Mittels Klonfunktion können bis zu vier VM-OCT+ mit unterschiedlichen Einstellungen gleichzeitig messen

Externe Meldegeräte ansteuerbar

Offline-Messung möglich